СОДЕРЖАНИЕ

N1 1998

XVI РОССИЙСКАЯ КОНФЕРЕНЦИЯ ПО ЭЛЕКТРОННОИ МИКРОСКОПИИ

Михссв Н.Н., Степопич М.А. Обратное рассеяние электронов зонда растрового электронного микроскопа в многослойных тонкопленочных структурах при нормальном падении пучка	6
Говорков А.В., Поляков А.Я., Смирнов Н.Б., Сковронски М., Мильвидский М.Г. Исследование на РЭМ в режимах микрокатодолюмннесценции и наведенного тока слоев GaN и AIGaN, выращенных на сапфире методом газофазной эпитаксии с использованием металлоорганических соединений	14
Злобин В.А. Применение метода наведенного тока для исследования интегральных полупроводниковых приборов большой мощности	20
Батов Д.В., Иванов Л.С., Пегов B.C., Петров В.И., Степович М.А., Филиппов М.Н. Получение и электронно-зондовые исследования структуры SiC осажденного из газовой фазы на различные типы подложек	26
Соколов В.Н., ЮрковецД.И., РазгулипаО.В., Мельник В.Н. Программно-аппаратный комплекс для исследования микроморфологии поверхности твердых тел по РЭМ-изображениям	33
Бухапов В.М., Миннсбасв К.Ф ., Тубольцев B.C., Черныш B.C. Структура пленок YBaCuO, напыленных на монокристалл SrTiO₃ (100)	42
Бешепков В.Г., Ермолов С.Н., Карпов М.И., Коржов В.П. Диагностика фазового состава YiBa₂Cu₃O_7-_x токонecyщих элементов на подложках CuAl бронзы по оже-спектрам при ионном профилировании	46
Акчурии М.Ш., Урусовская А.А. РЭМ-КЛ in situ исследование деформации монокристаллов CsI	53
Бсшеиков В.Г., Знаменский А.Г., Марченко В.А. Совершенные пленки фианита (Zr0₂+Y₂0₃) на кремнии (100)	59
Образцов А.Н., Караванский В.А., Окуши X., Ватанабе X. О пространственной локализации центров люминесценции в пленках пористого кремния	64
Киреев В.А., Разгонов И.И. Формирование сигнала модуляционной катодолюминесценции в планарных структурах с большой диффузионной длиной	71
Мптрофанов А.В., Пудонин Ф.А., Филиппов М.Н. Контраст изображения алюминиевых пленок, прошедших радиационную обработку вакуумным ультрафиолетовым излучением	79
Назаров М.В., Назарова Т.А., Сушкевич К.Д., Гареева A.P., Петров В.И. Изменения поверхностных свойств кристаллов MgO под влиянием термообработки в средах, содержащих А1	86
Еловиков С.С., Тажиева Г.P., Сушкова Ю.В., Зыкова Е.К., Семенов А.Э. Радиационные повреждения поверхностей галогенидов цепочных и щелочноземельных металлов низкоэнергетическими электронами	94
Зайцев С.И., Ушаков Н.Г. Определение параметров микрошероховатости по сигналу РЭМ	102
Коротаев А.Д., Тюменцев А.Н., Почивалов Ю.И., Овчинников С.В., Литовченко И.Ю., Ремнев Г.Е., Исаков И.Ф. Дефектная субструктура в металлах на различной глубине от поверхности воздействия мощных ионных пучков	108
Фахретдинов И.А., Чалый А.В., Черненко Л.М. Критические явления в поверхностных слоях в гравитационном поле	118
Зусманов Е.Р., Маевский В.М. Микроструктура Еu²⁺ центров в щелочногалоидных кристаллах с различной степенью дисперсности	126
Аксенов В.Л. Современные источники нейтронов	131