ВСЕРОССИЙСКОЕ РАБОЧЕЕ СОВЕЩАНИЕ "ЗОНДОВАЯ
МИКРОСКОПИЯ-97"
Юров В.Ю., Ельцов К.Н., Климов А.Н., Шевлюга В.М. Сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный
микроскоп. Калибровка сканера и подготовка зондов in situ |
5 |
Трояновский А.М., Володин А.П. Компактный низкотемпературный сканирующий
туннельный микроскоп. |
12 |
Далидчик Ф.И., Гришин М.В.,
Ковалевский С.А., Колчснко
Н.Н., Шуб Б.Р.
Сканирующая туннельная колебательная спектроскопия.
|
16 |
Дорофеев И.А. Притяжение двух
поглощающих тел с разными температурами. |
24 |
Волгунов Д.Г., Гапонов С.В." Дряхлушин В.Ф., Климов А.Ю., Кононов Р.Е.,
Лукьянов А.Ю., Миронов
В.Л., Панфилов А.И., Петрухин А.А., Ревин Д.Г., Рогов В.В. Ближнепольный оптический микроскоп для исследования
и модификации свойств поверхности. |
28 |
Либсисон М.Н., Марциновский Г.А. Особенности теплового
воздействия на тонкий слой в ближнем поле. |
32 |
Груздев В.Е., Либенсон М.Н.,
Марциновский Г.А. Применение ближнепольной микроскопии
для исследования поверхностного оптического пробоя прозрачных сред. |
37 |
Молотков С.Н. О возможности
наблюдения "шредингеровской кошки"
сканирующим туннельным микроскопом. |
45 |
Эдельман В.С., Трояновский А.М. Исследование структуры
поверхности скола висмута методом сканирующей туннельной микроскопии |
51 |
Титков А.Н.
Исследования закономерностей роста и испарения квантовых точек InSb на вицинальных
поверхностях СаАs (001),
разориентированных в направлении [010]. методом
атомно-силовой микроскопии. |
64 |
Голубок А,0." Масалов С.А., Пономарева Н.Б.,
Петров В.Н., Типисев
С.Я., Цырлин Г.Э. Исследования квантовых точек на поверхности эпитаксиальных полупроводников А3В5 методом сканирующей
туннельной микроскопии. |
70 |
Яминский И.В., Пышкина О.А., Сергеев В.Г., Семенов А.Э., Филонов А.С.
Визуализация энтеробактерий с помощью
атомно-силовой микроскопии. |
76 |
Галлямов М.О., Пышкина О.А.,
Сергеев В.Г., Яминский
И.В. Применение методов сканирующей зондовой
микроскопии к исследованию конформационных
свойств ДНК. |
79 |
Солдатов Е.С., Трифонов А.С., Губии С.П" Хомутов Г.Б.
Исследование одноэлектронного туннелирования через
одиночные молекулы с помощью сканирующей туннельной микроскопии. |
84 |
Ельцов К.Н., Андрюшечкин Б.В., Климов
А.Н., Мартынов В.В., Шевлюга В.М., Юров В.Ю.
Химическое состояние и локальная структура поверхности при хлорировании
металлов |
87 |
Дунаев А.Н., Карагеоргиев П.П., Карагеоргиева В.В.,
Казак-Казакевич А.3., Лучинин
В.В., Панов М.Ф., Пасюта В.М. Моно-
и мультислоевые молекулярные композиции как
объекты нанотехнологии и диагностики. |
93 |
Неволин В.К. Исследование свойств квазиодномерных
контактов в сканирующей туннельной микроскопии |
98 |
Шредник В.Н.
Точечные эмиттеры электронов и ионов на основе термополевых микровыступов и
перспективы их использования для модификации поверхности в нанометровом масштабе |
102 |
Владимиров Г.Г., Дроздов А.В. Изменение строения
поверхности в сканирующем туннельном микроскопе в результате воздействия
электрического поля |
111 |
Дорофеев И.А. Туннельный контакт под действием импульсного
напряжения. |
125 |