СОДЕРЖАНИЕ N2 1998

ВСЕРОССИЙСКОЕ РАБОЧЕЕ СОВЕЩАНИЕ "ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ-97"

Юров В.Ю., Ельцов К.Н., Климов А.Н., Шевлюга В.М. Сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп. Калибровка сканера и подготовка зондов in situ

5

Трояновский А.М., Володин А.П. Компактный низкотемпературный сканирующий туннельный микроскоп.

12

Далидчик Ф.И., Гришин М.В., Ковалевский С.А., Колчснко Н.Н., Шуб Б.Р. Сканирующая туннельная колебательная спектроскопия.

16

Дорофеев И.А. Притяжение двух поглощающих тел с разными температурами.

24

Волгунов Д.Г., Гапонов С.В." Дряхлушин В.Ф., Климов А.Ю., Кононов Р.Е., Лукьянов А.Ю., Миронов В.Л., Панфилов А.И., Петрухин А.А., Ревин Д.Г., Рогов В.В. Ближнепольный оптический микроскоп для исследования и модификации свойств поверхности.

28

Либсисон М.Н., Марциновский Г.А. Особенности теплового воздействия на тонкий слой в ближнем поле.

32

Груздев В.Е., Либенсон М.Н., Марциновский Г.А. Применение ближнепольной микроскопии для исследования поверхностного оптического пробоя прозрачных сред.

37

Молотков С.Н. О возможности наблюдения "шредингеровской кошки" сканирующим туннельным микроскопом.

45

Эдельман В.С., Трояновский А.М. Исследование структуры поверхности скола висмута методом сканирующей туннельной микроскопии

51

Титков А.Н. Исследования закономерностей роста и испарения квантовых точек InSb на вицинальных поверхностях СаАs (001), разориентированных в направлении [010]. методом атомно-силовой микроскопии.

64

Голубок А,0." Масалов С.А., Пономарева Н.Б., Петров В.Н., Типисев С.Я., Цырлин Г.Э. Исследования квантовых точек на поверхности эпитаксиальных полупроводников А3В5 методом сканирующей туннельной микроскопии.

70

Яминский И.В., Пышкина О.А., Сергеев В.Г., Семенов А.Э., Филонов А.С. Визуализация энтеробактерий с помощью атомно-силовой микроскопии.

76

Галлямов М.О., Пышкина О.А., Сергеев В.Г., Яминский И.В. Применение методов сканирующей зондовой микроскопии к исследованию конформационных свойств ДНК.

79

Солдатов Е.С., Трифонов А.С., Губии С.П" Хомутов Г.Б. Исследование одноэлектронного туннелирования через одиночные молекулы с помощью сканирующей туннельной микроскопии.

84

Ельцов К.Н., Андрюшечкин Б.В., Климов А.Н., Мартынов В.В., Шевлюга В.М., Юров В.Ю. Химическое состояние и локальная структура поверхности при хлорировании металлов

87

Дунаев А.Н., Карагеоргиев П.П., Карагеоргиева В.В., Казак-Казакевич А.3., Лучинин В.В., Панов М.Ф., Пасюта В.М. Моно- и мультислоевые молекулярные композиции как объекты нанотехнологии и диагностики.

93

Неволин В.К. Исследование свойств квазиодномерных контактов в сканирующей туннельной микроскопии

98

Шредник В.Н. Точечные эмиттеры электронов и ионов на основе термополевых микровыступов и перспективы их использования для модификации поверхности в нанометровом масштабе

102

Владимиров Г.Г., Дроздов А.В. Изменение строения поверхности в сканирующем туннельном микроскопе в результате воздействия электрического поля

111

Дорофеев И.А. Туннельный контакт под действием импульсного напряжения.

125