СОДЕРЖАНИЕ

Номер 7,1999

ВСЕРОССИЙСКОЕ РАБОЧЕЕ СОВЕЩАНИЕ "ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ'

(2-5 марта, 1998 г., Н. Новгород, Институт физики микроструктур РАН)

Истинные атомные структуры на поверхности СаАх (001), выращенной методами молекулярно-лучевой эпитаксии
Р. 3. Бахтизин, Т. Хашицуме, К.-К. Шуе, Т. Сакурай	7
Сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп с изменяемой температурой образца
К. Н. Ельцов, А. Н. Климов, А. В. Кузмичев, С. Л. Прядкин, В. Ю. Юров	18
Прямое наблюдение островков А$С1 методом сканирующей туннельной микроскопии в реакции хлорирования А$(111)
Б. В. Андрюшечкин, К. Н. Ельцов, В. М. Шевлюга, В. Ю. Юров	23
Применение Фурье-анализа СТМ-изображений для измерения структурных параметров адсорбированных монослоев. Структура Аg(111)-(17 х 17)-С1
Б. В. Андрюшечкин, К. Н. Ельцов, В. М. Шевлюга, В. Ю. Юров	30
Локальная диагностика степени легирования поверхности полупроводника с помощью сканирующего микроскопа электростатических сил. Численное моделирование
М. Л. Фелыитын, А. О. Голубок	35
Исследование текстурирования монослойных графитовых пленок на поверхности (111 )1г и (1010)Ке методами сканирующей туннельной и атомной силовой микроскопии
З.Вакар, Н. Р. Галлъ, И. В. Макаренко, Е. В. Рутьков, А. Н. Титков, А. Я. Тонтегоде, М. М. Усуфов	39
Исследование полевой эмиссии нанокристаллических алмазных пленок методом сканирующей туннельной микроскопии
А. Т. Рахимов, В. А. Самородов, Е. С. Солдатов, Н. В. Суетин, М. А. Тимофеев. А. С. Трифонов, В. В. Ханин	43
Исследование корреляции эмиссионных и структурных характеристик алмазных пленок методом сканирующей туннельной микроскопии
А. Т. Рахимов, В. А. Самородов, Е. С. Солдатов, Н. В. Суетин, М. А. Тимофеев, А. С. Трифонов, В. В. Ханин '	47
Особенности модификации поверхности олова импульсами напряжения в сканирующем туннельном микроскопе на воздухе
Г. Г. Владимиров, А. В. Дроздов, Н. Е. Линьков, Л. Н. Чубарь	52
Квантовохимическое численное моделирование поверхностных электронных плотностей
И. А. Валуев, А. С. Каклюгин, Г. Э. Норман	56
Формирование квантовых точек С<15е на поверхности 2п8е и их исследование методом сканирующей туннельной микроскопии
М. В. Байзер, В. Ю. Витухин, И. В. Закурдаев, С. Ю. Садофьев, К). Г. Садофьев	61
Наблюдения поля пятен вблизи края нанофасетки на поверхности кристаллов методами сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии
М. В. Байзер, В. Ю. Витухин, И. В. Закурдаев, Д. С. Фирсов	64
Эмиссионные процессы при малых расстояниях острие-объект
Л. М. Баскин, Г. Г. Владимиров, В. Н. Шредник	67
Статистические методы локального микроанализа электронной структуры поверхности полевых эмиттеров
С. С. Гоц, Р. Р. Галлямов, С. А. Иванов, Р. 3. Бахтизин	72
Флуктуационный обмен энергией между проводниками. Квазистационарный предел
И. А.Дорофеев	78
Исследование микромагнетизма и перемагничивания наночастиц ¹ с помощью магнитного силового микроскопа
А. А. Бухараев, Д. В. Овчинников, II. И. Нургазизов, Е. Ф. Куковицкий,М. Кляйбер, Р. Вейсендангер	82
Атомно-силовая микроскопия в режиме т кии имплантированной двуокиси кремния при химическом травлении в растворе НР
Л. Л. Бухараев, А. А. Бухараеви, Н. И. Нургазизов	87
Влияние формы и шероховатости острия на эффективность освещения образца в ближнем поле
Г. С. Жданов	91
Молекулярно-биологические, микробиологические и медицинские приложения сканирующей зондовой микроскопии
И. В. Яминский	95
Микроскопический контроль на содержание вируса полиомиелита
И. В. Яминский, А. В. Большакова, Б. А.Логинов, В. В. Протасенко, А. Л. Суворов, М. А. Козодаев, Д.С. Волнин	100
Визуализация РНК и рибонуклеопротеидов вируса табачной мозаики методами атомно-силовой микроскопии
М. О. Галлямов, Ю. Ф. Дрыгин, И. В. Яминский	104
Атомно-силовая микроскопия протеолипосом, содержащих АТФ-синтетазный комплекс
И. Киселёва, Л. С. Ягужинский, И. В. Яминский, М. Ф. Янюшин	109