Содержание

 

№ 12, 2000

 

XI РОССИЙСКИЙ СИМПОЗИУМ ПО РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ

И АНАЛИТИЧЕСКИМ МЕТОДАМ ИССЛЕДОВАНИЯ ТВЕРДЫХ ТЕЛ (РЭМ-99)

 

Пространственное разрешение, информационная глубина и контраст изображений подповерхностных структур, визуализируемых в отраженных электронах в РЭМ

Э. И. Рау, В. О. Савин, Р. А. Сенное                                                                                                                          

4

Электронная спектроскопия диэлектриков в РЭМ

М. В. Андрианов, А. В. Гостев, Э. И. Рау, Ж. Казо, О. Жбара, М. Белхаи                                                              

9

Стереомикротомография - новый способ изучения трехмерных микроструктур в РЭМ

С. Л. Дицман, В. Н. Мельник, Э. И. Рау, Р. А. Сенное, В. Н. Соколов, Д. И. Юрковец                                          

13

Исследование треков высокоэнергетических ионов в полимерах методом атомно-силовой микроскопии

Л. Л. Толстихина, А. И. Виленский, Р. В. Гайнутдинов, П. Ю. Апель, Б. В. Мчедлишвили                                  

16

О природе двумерных образований на полярной поверхности скола кристаллов ТГС

Л. Л. Толстихина, Н. В. Белугина, Р. В. Гайнутдинов                                                                                           

19

Исследование факторов, ускоряющих травление при получении полимерных трековых мембран

Д. Л. Загорский, Т. Е. Ларичева, Ю. Д. Соколова                                                                                                  

23

Выявление эффектов анизотропии в компактном нанокристаллическом железе

Л. Л. Новикова, О. В. Агладзе, Р. С. Гвоздовер, Т. Ю. Киселева, Б. П. Тарасов                                                    

27

Характеризация структур \У/А1М/81 методами СТМ, АСМ и наведенного электронным пучком тока

Л. В. Черных, Г. Н. Панин, Г. М. Михайлов                                                                                                           

30

Разрушение нитрида галлия ионами и электронами низких энергий

С. С. Еловиков, Р. С. Гвоздовер, Е. Ю. Зыкова, А. С. Мосунов, В. Е. Юрасова                                                    

34

Исследование спектров глубоких уровней, рекомбинационных характеристик и неоднородностей в распределении мелких и глубоких центров в эпитаксиальных пленках нитрида галлия

Л. В. Говорков, А. Я. Поляков, Н. Б. Смирнов, М. Г. Мильвидский, А. С. Усиков, Н. М. Шмидт, Б. В. Пушный

39

Фундаментальные дефекты в структуре монокристаллов LiYF4:Nd3+ и KY3F10:Er3+, определяющие люминесцентные свойства кристаллов

К. М. Девяткова, Л. И. Девяткова, В. Б. Тверской                                                                                                

47

Исследование распределения излучательных примесно-дефектных центров в кристаллах ZnSe:Al методом локальной спектральной катодолюминесценции

В. А. Короткое, М. В. Назаров, Р. Л. Соболевская, К. Д. Сушкевич, Л. И. Брук, В. И. Петров                           

51

Использование метода РЭМ для изучения жидкофазного восстановления железа в печи Ромелт

Л. К. Зайцев, Н. В. Криволапое, М. Н. Филиппов, Ю. В. Похвиснев                                                                      

58

Стратегия электронной литографии для структур большой площади с использованием нагрева резиста электронным пучком

В.А.Злобин                                                                                                                                                                

62

Контроль контаминации кремниевых объектов методами фото-эдс

В. Г. Дюков                                                                                                                                                               

66

Растровая ВЧ- и СВЧ-микроскопия

Л. В. Бураков, А. Е. Лукьянов                                                                                                                                 

73

О силах в туннельном контакте

Л. В. Шишлова, И. В. Яминский                                                                                                                            

83

Авторский указатель за 2000 г.                                                                                                                                

88