С О Д Е Р Ж А Н И Е

№11 за2004

МАТЕРИАЛЫ IV НАЦИОНАЛЬНОЙ КОНФЕРЕНЦИИ ПО ПРИМЕНЕНИЮ РЕНТГЕНОВСКОГО,

СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЙ НЕЙТРОНОВ И ЭЛЕКТРОНОВ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ МАТЕРИАЛОВ

(РСНЭ-2003)

Расчет формы линии и светосилы спектрометра рентгеновского излучения на основе многослойного цилиндрического зеркала
Ю.Л.Лобанова, А.Н.Субботин, В.И.Нагорный, И.А.Гусихина	5
Анализ влияния статистических свойств поверхности на фокусировку рентгеновского излучения многоуровневыми линзами скользящего падения
И.А.Щелоков, Д.В.Иржак	10
Применение дифракционной теории для расчета френелевских линз методами геометрической оптики в программе рэйтрейсинга “RAY”, используемой на BESSY
Н.А. Артемьев, А.Ерко, Ф.Шеферз	16
Двумерная фокусировка синхротронного излучения линзами скользящего падения
Д.В.Иржак, А.С.Кондаков, И.А.Щелоков, А.Н.Артемьев, А.В.Забелин,
А.Г.Маевский, К.Г.Потловский	22
Станция D’4.2 оптической ВУФ-спектроскопии для исследования твердых тел в диапазоне энергии возбуждения 3-200 эВ
П.В.Дудин, А.М.Лебедев, К.А.Меньшиков, Н.Ю.Свечников. В.Г.Станкевич	26
Станция для структурного материаловедения на Курчатовском источнике синхротронного излучения
А.А.Велигжанин, А.А.Чернышов, А.С.Хлебников, С.А.Амарантов, Е.В.Гусева,
Ю.Ф.Тарасов	33
Система стабилизации положения пучка СИ
А.Н.Артемьев, А.Г.Валентинов, А.В.Забелин, Ю.В.Крылов, А.Г.Маевский,
К.Г.Потловский, В.А.Резвов, Л.И.Юдин, Ю.Л.Юпинов	37
Изучение нанокомпозитных материалов методами цифровой растровой микроскопии высокого разрешения
С.В.Ткач, Е.Ф.Кузьменко, В.Н.Ткач, А.Г.Гонтарь, А.А.Шульженко	41
Новый подход к уточнению моделей структуры кристаллов
А.П. Дудка	46
Вклад аморфной фазы в нанокомпозитные пленки германия и арсенида галлия
По данным EXAFS-спектроскопии
Р.Г. Валеев, А.Н. Деев	50
Влияние Yb-Yb-корреляций на спектральный магнитный отклик кондо-изолятора YbB12
К.С.Немковский, Е.Ф. Нефедова, Н.Н. Тиден, Ж.-М. Миньо	54
Теоретический анализ спин-поляризованных спектров поглощения NiF2
Г.Ю. Смоленцев, А.В. Солдатов	58
Исследование чистой и декорированной золотом поверхности W (112) методом фотоэлектронной спектроскопии
С.И. Божко, А.М. Ионов, А.Н. Чайка, Д. Вялых, С.Л. Молодцов, В.Д. Серведио	62
Расчет перестраиваемого двухкристального монохроматора с фик сированным поворотом и сдвигом выходящего пучка СИ
Н.Г. Гаврилов, И.Л. Жогин, Б.П. Толочко _______________________________________________________________________	70
Исследование сложных дефектов упаковки в монокристаллах кремния
В.Г.Анисимов, Л.Н.Данильчук, Ю.А.Дроздов, А.О.Окунев, В.А.Ткаль	74
Исследование межфазной границы алмаз-матрица методами электронной микроскопии
Д.П. Валюхов, В.Я. Зленко, А.Э. Зорькин, С.А. Крикун, М.М. Яхутлов	82
Моделирование процессов зарядки мишени, облучаемой электронным пучком
С.С. Борисов, У.А. Грачев, С.И. Зайцев, Н.Н.Негуляев, Е.А. Черемухин	85
Формирование монокристаллических пленок TiSe
Д.И. Исмаилов, Э.Ш. Алекперов, Ф.И. Алиев	91
Остаточные микроускорения на Российском сегменте Международной космической станции
Е.В. Бабкин, М.Ю. Беляев, Н.И. Ефимов, Д.А. Завалишин, С.С. Обыденников, В.В. Сазонов, В.М. Стажков	94
Определение прозрачности потенциального барьера методом вариаций внешнего электрического поля
А.Ю.Антонов, М.И.Вараюнь, Н.В.Егоров	107
Правила для авторов	111-112