Введение в физику поверхности
Автор программы: д. ф.-м. н., Ионов А.М.
Цель дисциплины: Изучение основ методов  исследования электронной и атомно-кристаллической структуры поверхности и  возможности их применения при исследовании новых материалов.
    Задачи: ознакомить студентов с  физическими основами методов исследования поверхности, с инженерными основами  вакуумной техники и развитие у студентов навыков физического мышления, умения  ставить и решать задачи по физике систем, свободно владеть основными определениями  и терминологией в рамках данного курса. Задача курса состоит в изложении  базовых знаний о том, как устроены поверхности твердых тел, какими  специфическими свойствами они обладают, и какие процессы протекают на  поверхности. В курсе рассматриваются атомная и электронная структура  поверхности, поверхности раздела металл - полупроводник, гетероструктуры,  адсорбция, химические реакции и рост пленок, а также основные современные  методы исследования поверхности.
Краткое содержание дисциплины:
| 1 | Введение. Роль поверхности в различных физико-химических процессах. | 
| 2 | Физика    и техника сверхвысокого вакуума.  Особенности    газодинамики при низких давления. Длина свободного пробега молекул. Степени    вакуума. Механические безмасляные насосы - диафрагменные, турбомолекулярные    насосы. Пароструйные, магниторазрядные, ионосорбционные, криогенные насосы.    Методы измерения давления в вакуумных системах. Основные элементы конструкций    вакуумных систем. Материалы, используемые в вакуумной технике. Методы    получения атомарно-чистой поверхности:    термическая десорбция; ионное травление; каталитические реакции; напыление;    скол в вакууме. | 
| 3 | Основы двумерной кристаллографии. Двумерные решетки. Индексы Миллера плоскостей кристалла. Индексы направлений. Описание структуры поверхности. Двумерная обратная решетка. Атомная структура поверхности. Релаксация, реконструкция, их механизмы. Связь физических свойств поверхности с ее структурой. Структурные дефекты поверхности. | 
| 4 | Методы    исследования поверхности. | 
| 5 | Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия: физические основы метода, особенности эксперимента и оборудование. | 
| 6 | Ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия. Исследования с применением синхротронного излучения. Резонансная фотоэмиссия. | 
| 7 | Электронная Оже-спектроскопия.   | 
| 8 | Методы и принципы ионной спектроскопии. Масс-спектроскопия вторичных ионов: физические основы метода, особенности эксперимента и оборудование. Термодесорбционная спектроскопия. | 
| 9 | Зондовые методы исследования поверхности. Сканирующая туннельная микроскопия. Атомно-силовая микроскопия. ИК и рамановская спектроскопия. | 
| 10 | Электронная    структура и свойства поверхности. | 
| 11 | Электронные    и атомные процессы на поверхности твердых тел. | 
| 12 | Диффузия    на поверхности твердых тел. | 
| 13 | Рост и структура тонких пленок. | 
| 14 | Формирование наноструктур. Атомное и молекулярное наноманипулирование. | 
Общая трудоемкость дисциплины: 2 зачетные единицы.
Форма промежуточной аттестации: зачет с оценкой.



 
                                                             
                                                            